Поляризационный микроскоп Альтами ПОЛАР 3

Микроскоп поляризационный для наблюдения прозрачных и непрозрачных объектов в проходящем и отраженном свете, в обычном и поляризованном.

Технические характеристики

Методы контрастирований в проходящем и отраженном свете	светлое поле
Методы контрастирований в проходящем и отраженном свете	поляризация
Увеличение	50X...1200X
Насадка	тринокулярная, вращаемая на 360°, с наклоном 30°
	диоптрийная подстройка (±5 диоптрий)
	изменяемое межзрачковое расстояние 55...75 мм
	деление светового потока 0/100 100/0
Окуляры	WF10X/22 мм
	WF10X/22 мм со шкалой
	WF20X/12 мм
Штатив	из отлитого под давлением алюминия
	окрашенный огнеупорной эмалью
	основание 238×190 мм с резиновыми ножками
Объективы планахроматические "на бесконечность" без натяжений	PL L POL 5X/0.12 ∞/- (26.1 мм)
	PL L POL 10X/0.25 ∞/0 (20.2 мм)
	PL L POL 40X/0.65 ∞/0 (3.98 мм) (подпружиненный)
	PL L POL 60X/0.70 ∞/0 (3.18 мм) (подпружиненный)
Освещение	по классической системе Келера
	модуль отраженного света с блоком осветителя
	встроенный в основание осветитель проходящего света
	плавная регулировка яркости в осветителях отраженного и проходящего света
	центрируемые галогенные лампы 6 В/30 Вт в осветителях отраженного и проходящего света
	питание от 220 В, 50 Гц
Предметный столик	круглый столик, диаметр 150 мм, вращаемый на 360°
	градуировка столика через 1°
	нониус для измерения углов с точностью до 0.1°
Револьверное устройство	4-х позиционное с центрируемыми гнездами
Конденсор	регулируемый по высоте конденсор Аббе N.A.=1.25
	снабжен держателем светофильтров
	с регулируемой ирисовой диафрагмой
	снабжен откидной линзой
Фокусировка	коаксиальные винты грубой и точной фокусировки
	встроенный механизм для защиты препарата при быстрой смене
	регулировка плавности хода
Светофильтры	встроенное в модуль отраженного света колесо со светофильтрами (синий, зеленый, желтый, матовый)

В комплекте

λ компенсатор
λ/4 компенсатор
кварцевый клин
центрируемая линза Бертрана
встроенный в конденсор поляризатор для проходящего света, вращаемый на 360°
встроенный в модуль отраженного света поляризатор для отраженного света, вращаемый на 360°
встроенный в модуль отраженного света анализатор, вращаемый на 360°
объект-микрометр с двумя шкалами: 100×0.01 мм и 100×0.01 см
пылезащитный чехол
чистящая палочка для оптики из микрофибры шириной 15 мм
две салфетки 15×13 см с пропиткой смесью изопропилового и этилового спиртов
руководство по эксплуатации

Цифровая камера

тип камеры: цветная CMOS 3 Mпикс
размер сенсора: 1/2"
максимальное разрешение: 2048×1536
размер пикселя: 3.2×3.2 мкм
чувствительность: 1.0 В/люкс-сек. (550 нм)
динамический диапазон: 61 дБ
скорость передачи (зависит от ПК):
- 10 кадров в секунду (2048×1536),
- 30 кадров в секунду (1024×768),
- 43 кадра в секунду (680×510)
спектральный диапазон: 400...650 нм (с ИК-фильтром)
питание: от USB (+5 В)
экспозиция: автоматическая/ручная, электронный скользящий затвор (ERS), 0.244...2000 мс
в комплекте: программное обеспечение, USB кабель.

Программное обеспечение

Altami Studio - сертифицированная программа для управления устройствами захвата изображения, а также для анализа и обработки полученных кадров.

Особенности программного обеспечения Altami Studio

сертифицировано по
- ГОСТ Р 8.654-2009,
- ГОСТ Р ИСО/МЭК 12119-2000,
- ГОСТ Р ИСО 9127-94,
- Р 8.596-2002,
- МИ 2955-2010
управление цифровыми видеокамерами, веб-камерами, цифровыми фотоаппаратами Canon EOS
удобная калибровка изображения и проведение измерений объектов (длина, площадь, периметр и другие 28 параметров) на изображении в реальных величинах, а также статистическая обработка результатов измерений
инструмент «Мультифокус» - получение полностью сфокусированного изображения из нескольких изображений с частичным фокусом
инструмент «Панорама» - объединение нескольких изображений с разными полями зрения в одно
инструмент для замедления видео быстротечных процессов, снятого скоростными камерами
инструмент для ускорения видео медленно текущих процессов
инструмент «Маркер» - полуавтоматическое выделение объектов на изображении по цветовым характеристикам и их статистическая обработка.