Система для изучения эффекта Холла (Hall Characterization System) L79/HCS  

Система L79/HCS позволяет описать характеристики полупроводниковых устройств, измеряя подвижность, сопротивление, концентрацию носителей заряда и коэффициент Холла.

Для настройки предлагаются держатели для образцов разной геометрической формы и разные температурные условия. Дополнительная низкотемпературная опция и высокотемпературная версия до 700 °С гарантируют охват всех областей применения. Различные постоянные и электромагниты обеспечивают фиксированные или переменные магнитные поля до нескольких Тесла.

Комплексное программное обеспечение, основанное на ОС Windows, обеспечивает графики I-V и I-R.

Система может быть использована для определения характеристик различных материалов, включая Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (можно тестировать полупроводники n- и p- типа), металлические слои и т.д.

Особенности

• Определение концентрации носителей зарядов
• Определение удельного сопротивления
• Определение подвижности носителей заряда
• Определение проводимости
• Определение Alpha (продольное/поперечное распределение сопротивления)
• Определение постоянной Холла
• Изучение магнитосопротивления

Технические характеристики