image
index page
Группа компаний «Гранат»
+7 (812) 336-90-86 (многоканальный)
E-mail: marketing@granat-e.ru
image
image
Данное оборудование указано в следующих разделах каталога:

Система для изучения эффекта Холла (Hall Characterization System) L79/HCS  

Система для изучения эффекта Холла (Hall Characterization System) L79/HCS

Система L79/HCS позволяет описать характеристики полупроводниковых устройств, измеряя подвижность, сопротивление, концентрацию носителей заряда и коэффициент Холла.

Для настройки предлагаются держатели для образцов разной геометрической формы и разные температурные условия. Дополнительная низкотемпературная опция и высокотемпературная версия до 700 °С гарантируют охват всех областей применения. Различные постоянные и электромагниты обеспечивают фиксированные или переменные магнитные поля до нескольких Тесла.

Комплексное программное обеспечение, основанное на ОС Windows, обеспечивает графики I-V и I-R.

Система может быть использована для определения характеристик различных материалов, включая Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (можно тестировать полупроводники n- и p- типа), металлические слои и т.д.

Особенности

  • Определение концентрации носителей зарядов
  • Определение удельного сопротивления
  • Определение подвижности носителей заряда
  • Определение проводимости
  • Определение Alpha (продольное/поперечное распределение сопротивления)
  • Определение постоянной Холла
  • Изучение магнитосопротивления

Технические характеристики

Входной ток 500 нА...10 мА (шаг 500 нА)
Напряжение Холлла 0,5...4,5 В
Максимальное разрешение 65 пВ
Размеры образца 15×15, 20×20, 25×25 мм, высота до 5 мм
Магнитное поле до 1 Т
Датчики от температур жидкого азота до 240 °C
image
image
image