image
index page
Группа компаний «Гранат»
+7 (812) 336-90-86 (многоканальный)
E-mail: marketing@granat-e.ru
image
image
Данное оборудование указано в следующих разделах каталога:

Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М  

Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М

Внесён в Государственный реестр средств измерений РФ под № 48169-11

ПИК-30М предназначен для измерения относительных высот профиля поверхности (топограмм) полированных изделий, в том числе подложек сферических зеркал, диаметр которых не превышает 30 мм, высота не превышает 10 мм, а радиус кривизны лежит в диапазоне 2...7 м.

ПИК-30М позволяет работать с полированными изделиями без зеркального покрытия, коэффициент отражения которых не менее 4%.

ПИК-30М позволяет измерять участки крупногабаритных деталей до 150 мм.

Принцип действия прибора основан на интерференции световых пучков лазерного излучения, отраженного от плоского зеркала и поверхности измеряемого изделия. В основе прибора лежит оптическая схема интерферометра Тваймана-Грина.

Прибор состоит из двух частей:

  • интерферометра
  • блока управления и обработки информации.

В интерферометре световой поток от He-Ne лазера, пройдя через коллимирующее устройство, попадает на светоделительную призму, после которой направляется в предметное и опорное плечи интерферометра. В предметном плече располагается исследуемое изделие, закрепленное в специальной оправке, в опорном – плоское зеркало. Отразившись от предмета и плоского зеркала световые пучки сходятся на светоделительной призме. Интерференционное изображение строится объективом в плоскости регистратора – ПЗС камеры.

Компьютерная расшифровка интерферограмм производится по методу дискретного фазового сдвига, вносимого плоским зеркалом, сдвигаемым пьезоэлементом. В результате обработки интерферограмм восстанавливается двумерная карта высот профиля поверхности объекта (топограммы) относительно начальной точки, выбираемой оператором.

Программное обеспечение для обработки полученных топограмм позволяет вычислять:

  • Радиус кривизны сферических поверхностей
  • Среднее квадратическое отклонение и предельное отклонение измеренной топограммы от плоской и сферической поверхности
  • «Децентровку» сферической поверхности относительно геометрического центра подложки сферического зеркала в диапазоне 0,1...5,0 мм.

Технические характеристики

Поле зрения 30×40 мм
Диапазон измерений высоты профиля поверхности 0,005...30 мкм
Диапазон измерения радиуса кривизны 2000...7000 мм
Разрешающая способность в плоскости XY 0,1 мм
по оси Z 0,006 мкм
Источник излучения лазер
Длина волны излучения 0,632 мкм
Алгоритм реконструкции метод фазовых шагов
Размерность изображения 1392×1040 пикселей
Время измерения высоты профиля поверхности, не более 30 сек
Электропитание от сети переменного тока 220 ±22 В,  50 ±1 Гц
Потребляемая мощность, не более 350 Вт
Габаритные размеры 220×400×480 мм
Масса 40 кг

Комплект поставки:

  • Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М — 1 шт
  • ПЭВМ — 1 шт
  • Ложемент — 2 шт
  • Диск с программным обеспечением — 1 шт
  • Соединительные кабели — 3 шт
  • Руководство по эксплуатации, включающее методику поверки — 1 шт
image
обновлены
image
image