Конфокальный КР-(Раман) микроскоп SENTERRA II

SENTERRA II — это новый уровень производительности и комфорта в использовании в классе компактных КР-(Раман) микроскопов.

SENTERRA II отличается превосходной чувствительностью в сочетании с высокими спектральными и визуализационными характеристиками. Поэтому SENTERRA II может использоваться в качестве мощной платформы для проведения сложных исследований. Благодаря высокой степени автоматизации, компактным размерам и эффективному рабочему процессу SENTERRA II также является идеальным инструментом для решения реальных задач в лаборатории контроля качества.

Его беспрецедентная стабильность оси волнового числа гарантирует точные результаты в каждый момент времени. SENTERRA II — это КР-(Раман) микроскоп, подходящий как для многопользовательской среды с высокой ежедневной пропускной способностью, так и для лаборатории, работающей на переднем крае научных исследований.

SENTERRA II позволяет измерять спектры комбинационного рассеяния (КР) и комбинировать пространственно-разрешенную молекулярную информацию с высококачественными микроскопическими изображениями образца. Анализ выполняется бесконтактным способом без необходимости пробоподготовки. Получаемые химические изображения поверхности образца имеют очень высокое пространственное разрешение до менее чем одного микрона. Дополнительно профилирование по глубине оптически прозрачных образцов делает возможным неразрушающий анализ в третьем измерении. Как инструмент обнаружения, дифференциации и идентификации органических и неорганических материалов SENTERRA II имеет широкий спектр применения.

Области применения

Фармацевтика

• Дифференциация полиморфов
• Визуализация распределения действующих и вспомогательных веществ в таблетках
• Контроль качества: идентификация частиц и включений

Материаловедение

• Дифференциация аморфного и микрокристаллического кремния
• Характеризация инновационных 2-мерных материалов и углеродных нанотрубок

Криминалистика

• Идентификация улик с мест преступления, например волокон, частиц, кусков краски и т. д.
• Проверка подлинности предметов искусства
• Анализ поддельных документов, фармацевтических препаратов и денег
• Идентификация наркотических средств

Полимеры

• Идентификация чистых полимеров и композитов
• Анализ многослойных систем
• Характеризация полимеров: степень кристалличности, плотность, соответствие
• Определение состава мономеров, наполнителей, добавок
• Контроль качества: идентификация примесей и включений

Покрытия и пограничные слои

• Исследование состава и однородности

Искусство и объекты культурного назначения

• Идентификация использованных в предметах искусства материалов
• Установление подлинных и поддельных предметов
• Анализ состояния (старения и разрушения) предметов искусства

Биологические науки

• Определение молекулярного состава клеток и тканей

Особенности SENTERRA II

Спектроскопические характеристики исследовательского класса

SENTERRA II отличается превосходной чувствительностью и высоким спектральным разрешением без потери конфокальности.

Для большинства применений требуется только стандартная решетка: она охватывает весь КР-спектр за одно сканирование с разрешением 4 см-1. Для сложных исследований, таких как изотопное расщепление и полиморфизм, простым щелчком мыши можно установить дополнительную решетку высокого разрешения.

Интуитивное и безопасное управление

SENTERRA II — это очень удобная в управлении и интуитивно понятная система как для обычного пользователя, так и для эксперта. Аппаратное и программное обеспечение образуют единый функциональный модуль. В то время как интегрированный в программу мастер проводит оператора через этапы КР-микроанализа, автоматически выполняются все необходимые настройки оборудования.

Непревзойденная точность волнового числа и измерения

Решающее значение для получения точных результатов имеет точность калибровки длины волны. Уникальная технология SureCALTM компании Bruker гарантирует постоянную и автоматическую калибровку оси волнового числа в каждый момент времени без всякого вмешательства оператора.

Гарантированная надежность

Работая с SENTERRA II, вы всегда можете быть уверены в надежности результатов. Благодаря полностью автоматизированным процедурам тестирования приборов верификация характеристик выполняется без потери драгоценного времени на анализ. Спектральная точность во время выполнения анализа обеспечивается посредством постоянной и автоматизированной калибровки оси длины волны.

Комфортная КР-визуализация

SENTERRA II оснащен обширными функциями конфокальной КР-визуализации и картирования с возможностью непосредственного использования без потери времени на подстройку параметров. Эффективный сбор данных и прецизионный столик помогают добиться пространственного разрешения в субмикронном диапазоне и быстрого формирования КР-изображений. Даже анализ КР-изображений высокого разрешения занимает считанные секунды.

Преодоление флуоресценции

Выбор подходящей линии возбуждения лазера имеет критическое значение для получения содержательных КР-спектров без вредной фоновой флуоресценции.

Комбинация SENTERRA II с КР-Фурье технологией позволяет добавить 4-ю линию возбуждения в ближнем ИК-диапазоне (1064 нм), которая сводит к минимуму возникновение нежелательной флуоресценции.

В качестве исключительно КР-Фурье микроскопа предлагается RamanScope III.

Основные технические характеристики