Рентгенофлуоресцентный спектрометр SPECTRO MIDEX  

Внесён в Государственный реестр средств измерений РФ под № 49455-12

Микро-XRF спектрометр для элементного анализа — в точке, сканирование линий и площадей

Применение

• Контроль содержания вредных веществ в электронных компонентах и блоках (RoHS)
• Анализ маленьких образцов и включений в образцах для автомобильной и аэрокосмической промышленности
• Анализ ювелирных изделий и сплавов драгоценных металлов
• Экспертизы в криминалистике
• Множество других задач, где требуется маленькое пятно анализа или необходимо выяснить распределение элементов на образце большой площади
• Точный элементный анализ твердых и порошковых проб от Mg до U в точке, диаметр пятна анализа от 0,2 до 4 мм
• Режим «Большая дистанция» позволяет анализ образцов неправильной формы
• Быстрое сканирование больших областей
• Большая камера проб для разнообразных проб
• SDD детектор высокого разрешения с большой активной площадью
• Готовые калибровки — по запросу
• Простота эксплуатации и минимальное техническое обслуживание
• Сертификат ГОССТАНДАРТ, русифицированное программное обеспечение

Технические характеристики