Гранат
измерительные приборы, аналитическая аппаратура, лабораторное оборудование, расходные материалы
В связи с ремонтом в офисе 25-27 ноября телефоны не работают. Срочные вопросы просим отправлять электронной почтой
Группа компаний «Гранат»
+7 (812) 336-90-86 (многоканальный)
E-mail: marketing@granat-e.ru
image
Данное оборудование указано в следующих разделах каталога:

Измерение параметров силовых полупроводниковых приборов.
Комплект приборов серии АДИП

прибор серии АДИП

В преобразовательных установках большой мощности - в промышленности, на электрическом транспорте - применяется групповое соединение силовых полупроводниковых приборов (СПП). Для равномерной загрузки СПП в статических и динамических режимах работы их необходимо подбирать с минимальным разбросом параметров. Это прежде всего — статические параметры токов и напряжений в закрытом и открытом состояниях, параметры цепей управления и динамические параметры процесса включения и выключения.

Комплекс измерительной аппаратуры «АДИП» позволяет измерять основные параметры СПП на токи до 5 кА и напряжения до 6 кВ. По полученным данным можно судить о пригодности СПП к дальнейшей эксплуатации, осуществлять их подбор с идентичными значениями основных параметров.

Использование устройств типа «АДИП» на предприятиях, эксплуатирующих преобразовательные установки большой мощности, показало, что грамотная работа по определению состояния приборов существенно уменьшает число их отказов, повышает надежность преобразователей на основе СПП и сокращает сроки их доводки.

Комплекс «АДИП», рекомендуемый для потребителей СПП, состоит из четырех установок для измерения статических параметров силовых тиристоров (СТ), симисторов (СС) и силовых диодов (СД) в закрытом (обратном) и в открытом (прямом) состояниях, динамических параметров при включении и параметров цепи управления СТ и СС.

Все установки серии «АДИП» соответствуют требованиям ГОСТ 24461-80, который регламентирует методы измерений и испытаний СПП.

Аппаратура обладает цифровой индикацией результатов измерения.

Максимальные габариты переносных вариантов устройств не превышают 750x600x600 мм, масса не превышает 35 кг.

Технические характеристики

АДИП1

Предназначен для измерения токов Idm утечек и обратных токов Irm всех типов силовых полупроводниковых приборов при заданной амплитуде испытательного напряжения Ud/r/m.

Формирование однократного импульса испытательного напряжения с плавно устанавливаемой амплитудой АДИП1.32 300...3200 В
АДИП1.40 300...4000 В
Диапазон измерения токов Id/r/m 100 мкА - 100 мА
Погрешность измерения Id/r/m меньше или равно 5%
Температура корпуса силового прибора при испытании Tk 25...125 °С

АДИП2

Предназначен для измерения прямого импульсного напряжения Ufm силовых диодов и импульсного напряжения Utm в открытом состоянии силовых тиристоров при предельном токе до 5000 А.

Формирование однократного импульса прямого тока с дискретно устанавливаемой амплитудой Itm/fm/ в диапазоне 500...15700 А. Время нарастания до заданной амплитуды < 2 мс АДИП2.1250 2 мс - 160 А - 1250 А
АДИП2.2500 2 мс - 160 А - 2500 А
5 мс - 160 А - 2500 А
АДИП2.5000 2 мс - 200 А - 5000 А
5 мс - 160 А - 5000 А
Диапазон измерения Utm/fm/ при погрешности меньше или равной 5% 1...10 В
Температура корпуса силового прибора при испытании Tk 25 oC

АДИП3

Предназначен для измерения времени включения t/gt/ и времени задержки t/gd/ силовых тиристоров по управляющему электроду.

Формирование однократного импульса прямого тока через силовой тиристор в открытом состоянии с дискретно устанавливаемой амплитудой при Udm 300 В АДИП3.1250 2 мс - 100 А - 1250 А
АДИП3.2500 2 мс - 100 А - 2500 А
Диапазон измерений t/gt/ 3...30 мкс
Диапазон измерений t/gd/ при погрешности меньше или равной 5% 1...10 мкс
Температура корпуса силового прибора при испытании Tk 25 °С

АДИП4

Предназначен для измерения параметров цепи управления силовых тиристоров и силовых симисторов отпирающего тока Igt и отпирающего напряжения Ugt.

Диапазон измерений Igt 10...200 мА
Диапазон измерений Ugt 1...5 В
Погрешность измерения Igt и Ugt меньше или равно 5%
Температура корпуса силового прибора при испытании Tk 25 °С
новинки