Данное оборудование указано в следующих разделах каталога:
Настольный спектрометр для измерения толщины металлических покрытий M1 MISTRAL
Внесён в Государственный реестр средств измерений РФ под № 14862-11
Настольный спектрометр M1 MISTRAL находит широкое применение в различных областях, одной из которых является анализ толщины покрытия металлов и многослойных систем. Покрытия могут быть нанесены на материал гальваническими (химические, электрохимические) так и вакуумными методами (напыление, комбинированные методы).
Спектрометр производит измерение толщины:
- покрытий никеля, хрома, цинка, кадмия, сплавов олова, свинца, серебра и многих других на самых различных основах (например, сталь или сплавы меди, титана и пр.)
- покрытий, нанесенных на неметаллические материалы
- покрытий из драгоценных металлов, например, серебра, золота, родия, палладия и других
- различных многослойных покрытий, до 12 слоев (!)
Основные преимущества M1 MISTRAL
- внесен в государственный реестр средств измерений как спектрометр для измерения толщины покрытия (толщиномер покрытий)
- широкий диапазон измерения толщины покрытия
- прецизионный метод микро РФА обеспечивает низкую погрешность измерения
- гибкие конфигурации, позволяющие подобрать оптимальное решение под требуемую задачу
- измерение габаритных образцов размером до 200×175×80 мм
- автоматическое измерение по поверхности образца в различных точках, измерение неровных поверхностей
- контроль качества гальванических покрытий.
Технические характеристики
Тип прибора | стационарный |
Тип образцов | драгоценные металлы, реставрация, искусствоведение, археология, полупроводники, микроэлектроника, тонкие пленки |
Метод анализа | микрорентгеновская флуоресценция |
Применение | области размером от 100 мкм, печатные платы, измерение толщины покрыти |
Параметр | Стандартная конфигурация | Расширенная конфигурация |
Возбуждение | Микрофокус, окно — стекло, мишень W | Микрофокус, окно — Be, мишень по запросу заказчика |
Высокое | 40 кВ, 40 Вт | 50 кВ, 50 Вт |
Детектор | Проп. счетчик, активная площадь 1100 мм² | Пельте охлаждаемый XFlash® SDD детектор, 30 мм² активная площадь < 160 эВ для Mn-Ka |
Диаметр пятна | 0.3 или 0.5 мм коллиматор (завод. установки) | 0.13 или 0.7 мм коллиматор-чейнджер |
Наблюдение | Цветная CCTV камера высокого разрешения, увеличения 20x и 40x | |
Столик образца | Ручное или механизированное по Z управление | 200×170×70 мм, автофокус |
Количественный анализ | Эталонные методы (эмпирич.). Метод фундаментальн. парам. для безэталонного анализа | Эталонные методы (эмпирич.). Метод фундаментальн. парам. для безэталонного анализа и для анализа покрытий (слоев) |
Электропитание | ~110/230 В, 50/60 Гц, 100 Вт | ~110/230 В, 50/60 Гц, 120 Вт |
Габариты | 450×550×420 мм | 550×700×430 мм |
Вес | 46 кг |