Данное оборудование указано в следующих разделах каталога:
Настольный рентгеновский дифрактометр КОЛИБРИ
Настольный дифрактометр КОЛИБРИ — новое современное решение для научно-образовательного и индустриального применения.
Предназначен для анализа фазового состава и структурного состояния поликристаллических объектов различного происхождения.
Области применения дифрактометра
- Геология, горное дело, горнодобывающая промышленность
- Металлургия и машиностроение
- Производство керамики и стройматериалов
- Химическая и нефтехимическая промышленность
- Экспертиза
- Медицина, фармакология
- Наука, образование
- Экологический мониторинг
Особенности
- Вертикальный q-q гониометр оригинальной конструкции с горизонтальным положением образца
- Конфигурация с линейным позиционно-чувствительным детектором Mythen
- Встроенная система охлаждения
- Полностью заводская настройка
Основные технические характеристики
Тип гониометра | Вертикальный q-q |
Рентгенооптическая схема | Брэгга-Брентано |
Радиус гониометра, мм | 150 |
Угловой диапазон, град | -5...+160 (базовая) |
-3...+140 (с ПЧД) | |
Транспортная скорость, град/мин | 1000 |
Режимы сканирования | Дискретный/непрерывный |
Скорость сканирования 2q, град/мин | 0,01...100 |
Минимальный шаг сканирования 2q, град | 0,005 |
Точность определения углового положения максимума, град | 0,02 |
Высоковольтный источник питания, выходная мощность, Вт | 600 |
Питание аппарата, В/Гц | ~220 В 50 Гц |
Потребляемая мощность, ВА | 3500 |
Вес, кг | 100 |
Программное обеспечение для управления, сбора данных и обработки порошковых рентгенограмм
- Разграничение доступа к различным функциям для различных пользователей
- Установка высоковольтного режима и запуск эксперимента в одно касание
- Сенсорный экран с поддержкой «touch» жестов
- Удаленное подключение и управление экспериментом
- Быстрое переключение между режимами минимального времени измерения и максимального разрешения
- Автоматическая обработка рентгенограммы после ее измерения
Кристаллографический программный комплекс для анализа экспериментальных данных (поставляется опционально)
- Качественный и количественный фазовый анализ
- Анализ степени кристалличности
- Расчет метрики кристаллической решетки
- Анализ размеров кристаллитов и микродеформаций
- Уточнение структуры методом Ритвельда