Данное оборудование указано в следующих разделах каталога:
Рентгенофлуоресцентный аналитический микрозонд ЭКРОС XRF-9720 Stingray
Настольный рентгеновский микрозонд позволяет проводить элементный анализ микро- и макрообъектов, исследовать однородность состава с помощью картирования элементов и рентгенографических изображений объектов.
Элементное картирование
Программное обеспечение позволяет строить карты распределения элементов в диапазоне от Na до U и исследовать неоднородность объектов.
Микроанализ
Благодаря минимальному размеру рентгенов- ского пятна 20 мкм, возможно проведение эле- ментного картирования с высоким разрешением, а также качественного и количественного рентгенофлуоресцентного анализа.
Точность позиционирования
Высокопрецизионный предметный стол, совме- щённый с оптическим микроскопом/видеокаме- рой, даёт возможность точно исследовать заданную оператором область.
Рентгенография
С помощью специального детектора, расположенного под объектом исследования, выводятся рентгенографические изображения.
Видеозахват области сканирования
Выбор области измерения проводят по изображе- нию с видеокамеры или оптического микроскопа с последующей возможностью его наложения на результаты элементного картирования.
Нестандартные размеры объектов
Возможно проведение измерений крупногабаритных образцов неправильной формы.
Отсутствие пробоподготовки
Нет необходимости в проведении дополнительной подготовки анализируемых образцов.
Области применения
- Исследование покрытий
- Электроника, электронные платы
- Новые материалы, полупроводники
- Искусство
- Археология и реставрация
- Технологический контроль
- Криминалистика
- Экспертиза
- Материаловедение
Технические характеристики
Источник рентгеновского излучения | Микрофокусная рентгеновская трубка |
Материал анода рентгеновской трубки | Mo, Rh |
Детекторы | Кремниевый дрейфовый с электроохлаждением |
Рентгенографический канал | |
Размер рентгеновского зонда | от 20 мкм |
Точность позиционирования предметного стола | 10 мкм |
Спектральный диапазон | 1...40 кэВ |
Энергетическое разрешение на линии Fe55 | < 130 эВ |
Область сканирования | 150×150 мм |
Диапазон определяемых элементов | 11Na (Kа)...92U (Lа) |
Система автоматической смены фильтров | Zr, Ti, Mo, Ag, Al, Cu, Cl и др. |