Данное оборудование указано в следующих разделах каталога:
Инфракрасные фурье-спектрометры ФСМ
Анализ спектральных характеристик оптических, оптоэлектронных устройств и материалов
Исследования и разработки в области фотоники определяют развитие современных цифровых технологий, включая телекоммуникации, мультимедиа, компьютерную и электронную технику.
Методология определения спектральных характеристик оптоэлектронных устройств, оптических материалов и покрытий основана на регистрации спектров эмиссии, поглощения или отражения с последующим расчетом параметров. Для светоизлучающих диодов выполняется измерение оптической мощности как функции длины волны и расчетом длины волны пика (λp), длины волны максимума — центра пика (λo) и спектральной ширины пика (∆λ).
Стандарты:
- IEC 60747-5 (2016) Приборы полупроводниковые. Часть 5-6. Оптоэлектронные приборы. Светоизлучающие диоды Часть 5-7. Оптоэлектронные приборы. Фотодиоды и фототранзисторы
- ГОСТ Р ИСО 9211-2-2014 Оптика и оптические приборы. Покрытия оптические. Часть 2. Оптические свойства
ИК фурье-спектрометры ФСМ с дополнительным оборудованием
- оптическими приставками зеркального отражения (ПЗО),
- приставкой радиометрической (ПР),
- микрообъективом
позволяют проводить исследования и анализ спектральных характеристик различных материалов, свето- и фотодиодов.
Приставка радиометрическая ПР
Фурье-спектрометр инфракрасный ФСМ 2202 с микрообъективом
Программа Fspec фурье-спектрометра ФСМ обеспечивает управление всем процессом измерений, включая формирование файла спектральных данных в текстовом формате для последующей математической обработки в прикладных пакетах Matlab, Mathematica.
В качестве эталонного источника излучения для точного определения длины волны используется встроенный в фурье-спектрометр He-Ne лазер.
Для проверки калибровки шкалы волновых чисел может использоваться внешний стандарт — газовая кювета, заполненная оксидом углерода (CO).
Основные метрологические характеристики ИК фурье-спектрометров ФСМ
Динамический диапазон, мкм | средняя ИК область | 1,25...25 |
ближняя ИК область | 0,8...2,5 | |
Спектральное разрешение, нм | <0,5 | |
Погрешность шкалы длин волн, нм | ±0,01 |
Особенности и преимущества
- Автоматизация измерений, включая функции стартового тестирования и самодиагностики в процессе эксплуатации спектрометра
- Высокая точность измерения длины волны
- Широкий динамический диапазон
- Высокая скорость сканирования: 1 скан/0,5 с
- Возможность использования дополнительных входных и выходных оптических портов.
Спектры излучения светодиодов, полученные с помощью ИК фурье- спектрометра ФСМ 2201 и приставки радиометрической ПР4
Спектры фоточувствительности фотодиодов, полученные с помощью ИК фурье-спектрометра ФСМ 2201 и микрообъектива
Спецификация и технические характеристики
Фурье-спектрометр инфракрасный ФСМ 2202
Интерферометр Майкельсона с самокомпенсацией, не требующий динамической юстировки, зеркала с золотым покрытием.
Герметичное размещение оптических элементов.
Влагозащитное исполнение светоделителя и оптических окон из KBr. Большеразмерное кюветное отделение.
Технические характеристики
Спектральный диапазон, см-1 | 370...7800 |
Спектральное разрешение, см-1 | 0,5 |
Размеры кюветного отделения, мм | 200×190×170 |
Габаритные размеры, мм | 520×370×250 |
Масса, кг | 28 |
Приставки и приспособления
Приставка радиометрическая (ПР), подключаемая к внешнему входному порту спектрометра.
Приставка микрообъектив (МО), устанавливается в кюветное отделение.
Приставка зеркального отражения (ПЗО80), 80°
Программное обеспечение
FSpec базовое программное обеспечение ИК фурье-спектрометров ФСМ.
Получение, анализ, обработка спектров, тестирование спектрометра. Windows XP/Vista/7/10.
Информация для заказа
Код заказа | Наименование |
101-0111 | Фурье-спектрометр инфракрасный ФСМ 2202 |
440-0700 | Приставка радиометрическая ПР |
460-0500 | Микрообъектив МО |
430-0400 | Приставка зеркального отражения ПЗО80 |
301-0200 | Система обработки данных на базе ноутбука, включая принтер. Установленная ОС Windows 10 |
801-0100 | ПО FSpec. Управление фурье-спектрометром, получение и обработка ИК спектров |