Сканер контроля волнистости/шагрени и индекса DOI ― wave-scan II  

Wave-scan II пришёл на смену устаревшему wave-scan DOI.

Прибор также превосходно обеспечивает контроль внешнего вида верхнего покрытия ― базы и лака.

Сканер wave-scan II характеризуется стопроцентной корреляцией с wave-scan DOI и открывает новые возможности для измерения шагрени/волнистости и DOI на поверхностях с сильным блеском.

Отличительные особенности

Малый вес и отличная эргономика wave-scan II делают процесс контроля еще более легким, особенно при использовании на конвейере.

Новый дизайн упрощает работу на поверхности со сложной геометрией.

Управление и меню стали еще понятнее и удобнее.

Новая система навигации и управления ― колесо, как на компьютерной мыши.

Объем памяти увеличился до 1500 значений (ранее ― 500).

Новая док-станция хранения прибора, зарядки батареи и передачи информации на PC через интерфейс USB.

Wave-scan II удобен для применения и на плоских, и на искривленных поверхностях (с радиусом кривизны 500 мм), снабжен большим дисплеем и USB-портом, встроенной памятью. Шкалы измерения и длина пути сканирования задаются по выбору.

Новый дополнительный ИК–светодиод позволяет измерять и анализировать те же самые спектральные структуры (0,1...30 мм) на поверхностях со средним блеском (грунт/праймер).

Индекс DOI и степень четкости отражения анализируется с помощью встроенной современной CCD-камеры.

Wave-scan II даёт новые возможности специалистам «balck belt» на автомобильных заводах при анализе дефектов или несоответствий финишного покрытия требуемым параметрам.

Прибор обеспечивает контроль шагрени в соответствии с внутренними стандартами всех мировых автоконцернов.

Диапазоны волнистости для wave-scan II