Данное оборудование указано в следующих разделах каталога:
Анализатор тонких пленок TFA
Анализатор тонких пленок LINSEIS TFA — идеальное решение для изучения широкого диапазона тонкопленочных образцов очень удобным и быстрым способом. Это простая в использовании, отдельно стоящая система, которая дает результаты высшего качества, используя оптимизированную для измерений конструкцию и проверенный программно-аппаратный комплекс LINSEIS.
Большим преимуществом этой системы является одновременное определение всех интересующих свойств за одно измерение и на одном образце. Таким образом, все измеренные результаты вполне сравнимы, а ошибки, возникающие из-за различий окружающих условий, таких как геометрия и состав образца или температурный профиль, полностью исключаются. Другим большим преимуществом является модульность конструкции системы. Если нужно измерять лишь часть возможных свойств, можно начать с базового прибора, а затем модернизировать систему позднее.
Система позволяет изучать широкий диапазон различных материалов. Можно измерять как металлы, так и керамику, органические вещества, поэтому становится возможным использовать различные методы нанесения образов, такие как конденсация из паровой (газовой) фазы, химическое осаждение из паровой (газовой) фазы или покрытие методом центрифугирования.
Для TFA-анализатора доступны следующие опции:
Базовая система
Состоит из измерительной камеры, вакуумного насоса, основного держателя образца со встроенным нагревателем, измерительной электроники, компьютера и программного пакета LINSEIS.
Конструкция оптимизирована для измерения следующих физических свойств:
- λ – теплопроводность (стационарное состояние / in plane)
- ρ – электросопротивление
- σ – электропроводность
- S – коэффициент Зеебека
- ε – коэффициент излучения
Нестационарный комплекс:
Состоит из системы интегрированного синхронного усилителя, электроники и программы оценки для 3ω-метода.
Конструкция оптимизирована для измерения следующих физических свойств:
- λ – теплопроводность (нестационарное состояние / in plane и cross plane)
- Cp – удельная теплоемкость
Магнитный комплекс:
Выбор интегрированного электромагнита в зависимости от требований применения.
Конструкция оптимизирована для измерения следующих физических свойств:
- АН – константа Холла
- μ – подвижность
- n – концентрация носителей заряда
Низкотемпературная опция для контролируемого охлаждения до 100 К
- TFA/KREG система контролируемого охлаждения
- TFA/KRYO сосуд Дьюара 25 л